prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2009

• Influence of Cross-Correlation of Rough Boundaries on Reflectance of Thin Films on GaAs and Si Substrates

  VIZDA Frantisek OHLÍDAL Ivan HRUBY Vojtech

  Článek ve sborníku

  PHYSICS OF SEMICONDUCTORS, rok: 2009

• Precise measurement of thickness distribution of non-uniform thin films by imaging spectroscopic reflectometry

  OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr NEČAS David

  Článek ve sborníku

  Proceedings of IMEKO XIX World Congress, rok: 2009

• Reflectance of non-uniform thin films

  NEČAS David OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Optics A: Pure and Applied Optics, rok: 2009, ročník: 11, vydání: 4

2008

• Characterization of nanostructured diamond-like carbon coatings deposited in single and dual frequency capacitive discharges

  BURSIKOVA Vilma PERINA Vratislav SOBOTA Jaroslav GROSSMAN Jan KLAPETEK Petr BURSIK Jiri FRANTA Daniel OHLIDAL Ivan ZAJICKOVA Lenka HAVEL Josef JANCA Jan

  Konferenční abstrakty

  Rok: 2008, druh: Konferenční abstrakty

• Influence of cross-correlation effects on the optical quantities of rough films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan NEČAS David

  Článek v odborném periodiku

  Optics Express, rok: 2008, ročník: 16, vydání: 11

• Influence of shadowing on ellipsometric quantities of randomly rough surfaces and thin films

  OHLÍDAL Ivan NEČAS David

  Článek v odborném periodiku

  Journal of modern optics, rok: 2008, ročník: 55, vydání: 7

• Nanoindentation studies on amorphous carbon films prepared using plasma enchanced chemical vapor deposition

  BURSIKOVA Vilma VALTR Miroslav KLAPETEL Petr BURSIK Jiri BLAHOVA Olga OHLIDAL Ivan

  Konferenční abstrakty

  Rok: 2008, druh: Konferenční abstrakty

• Optical characterization of diamond-like carbon thin films non-uniform in thickness using spectroscopic reflectometry

  OHLÍDAL Ivan NEČAS David BURŠÍKOVÁ Vilma FRANTA Daniel OHLÍDAL Miloslav

  Článek v odborném periodiku

  Diamond and Related Materials, rok: 2008, ročník: 17, vydání: 1

• Optical characterization of non-stoichiometric silicon nitride films

  NEČAS David PEŘINA Vratislav FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan ZEMEK Josef

  Článek v odborném periodiku

  physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5

• Optical characterization of phase changing Ge2Sb2Te5 chalcogenide films

  FRANTA Daniel HRDLIČKA Martin NEČAS David FRUMAR Miloslav OHLÍDAL Ivan PAVLIŠTA Martin

  Článek v odborném periodiku

  physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5