2009

• Analysis of vacancy and interstitial nucleation kinetics in Si wafers during rapid thermal annealing

  KUBĚNA Josef KUBĚNA Alan CAHA Ondřej MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  J.Phys.: Condens. Matter, rok: 2009, ročník: 21, vydání: 10

• Homogenization of CZ Si wafers by Tabula Rasa annealing

  MEDUŇA Mojmír CAHA Ondřej KUBĚNA Josef KUBĚNA Alan BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Physica B condensed matter, rok: 2009, ročník: 404, vydání: 23-24

• Homogenization of CZ Si wafers by Tabula Rasa annealing

  MEDUŇA Mojmír CAHA Ondřej KUBĚNA Josef KUBĚNA Alan BURŠÍK Jiří

  Konferenční abstrakty

  Rok: 2009, druh: Konferenční abstrakty

• Interdiffusion in Ge rich SiGe/Ge multilayers studied by in situ diffraction

  MEDUŇA Mojmír CAHA Ondřej KEPLINGER Mario STANGL Julian BAUER Günther MUSSLER Gregor GRÜTZMACHER Detlev

  Článek v odborném periodiku

  Physica stat.sol.(a), rok: 2009, ročník: 206, vydání: 8

• Towards limits of x-ray specular reflectivity

  JÍŠA Jan MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, rok: 2009, ročník: 16, vydání: 2a

• Vacancies and self-interstitials dynamics in silicon wafers

  CAHA Ondřej KUBĚNA Josef KUBĚNA Alan MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Solid State Phenomena, rok: 2009, ročník: Neuveden, vydání: 156-158

• X-ray diffraction on precipitates in Czochralski-grown silicon

  CAHA Ondřej MEDUŇA Mojmír

  Článek v odborném periodiku

  Physica B condensed matter, rok: 2009, ročník: 404, vydání: 23-24

• X-ray diffraction on precipitates in Czochralski-grown silicon

  CAHA Ondřej MEDUŇA Mojmír

  Konferenční abstrakty

  Rok: 2009, druh: Konferenční abstrakty